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产品详情
简单介绍:
SANKO山高 膜厚計 可携带的探针整体型膜厚计 SAMAC-Pro
SANKO山高 膜厚計 可携带的探针整体型膜厚计 SAMAC-Pro
用自动判别的金属。
在暗处的测量也可能。
◆FN型单功能,Pro型高机能。
◆测量值·标准曲线记忆功能(Pro )。
◆电脑的数据输出功能(Pro )。
详情介绍:
用自动判别的金属。
在暗处的测量也可能。
◆FN型单功能,Pro型高机能。
◆测量值·标准曲线记忆功能(Pro )。
测定范围铁质地:0~2
有色金属质地:0~毫米
1μm:0~999μm(铁·有色共通)
根据切换
0.1μm:0~400μm(铁·有色共通)
4μm:400~500μm(铁非有色共通)
0.01毫米:1.00~2.5毫米(基础)铁
0.01毫米:1.00~2.0毫米(有色金属质地)
测定精度
在平滑方面
垂直测量)0~100μm:±1μm(铁、有色共同)
或指示值的±2 %以内
101μm~2.5毫米:±2%以内(铁质地)
101μm~2.0毫米:±2%以内(有色金属质地)
内存的检量线(FN:一书,书Pro : 10)
测量值20,1000点(Pro)
统计计算功能LCD上统计数据显示(Pro)
数据传输USB输出(Pro)
探针
(内置)一点恒压接触式,V切割付,φ13
电源单4干电池(2),自动パワーオフ1.5 V×
使用温度0~40℃(不得结露)
尺寸重量63(W)×84(D)×30(D)毫米,约125克
配件标准厚板,考试用零板(铁用、有色用),收纳盒
SWT系列专用探头选项
用探针兼容和本体的自由组合连接可能。
根据测量对象,连接铁质地(电磁式)或有色金属质地(渦电流)。
◆微片条等的测量适合的高稳定性探头等,用途和测量范围更探头可供选择


在暗处的测量也可能。
◆FN型单功能,Pro型高机能。
◆测量值·标准曲线记忆功能(Pro )。
◆电脑的数据输出功能(Pro )。
测定范围铁质地:0~2
有色金属质地:0~毫米
1μm:0~999μm(铁·有色共通)
根据切换
0.1μm:0~400μm(铁·有色共通)
4μm:400~500μm(铁非有色共通)
0.01毫米:1.00~2.5毫米(基础)铁
0.01毫米:1.00~2.0毫米(有色金属质地)
测定精度
在平滑方面
垂直测量)0~100μm:±1μm(铁、有色共同)
或指示值的±2 %以内
101μm~2.5毫米:±2%以内(铁质地)
101μm~2.0毫米:±2%以内(有色金属质地)
内存的检量线(FN:一书,书Pro : 10)
测量值20,1000点(Pro)
统计计算功能LCD上统计数据显示(Pro)
数据传输USB输出(Pro)
探针
(内置)一点恒压接触式,V切割付,φ13
电源单4干电池(2),自动パワーオフ1.5 V×
使用温度0~40℃(不得结露)
尺寸重量63(W)×84(D)×30(D)毫米,约125克
配件标准厚板,考试用零板(铁用、有色用),收纳盒
Pro:USB线,USB驱动(CD)
测量范围连接探针(另售)不同而不同 |
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用探针兼容和本体的自由组合连接可能。
根据测量对象,连接铁质地(电磁式)或有色金属质地(渦电流)。
◆微片条等的测量适合的高稳定性探头等,用途和测量范围更探头可供选择


