产品详情
  • 产品名称:重庆玉崎 IMV艾目微 绝缘老化评价试验 HiPー1000/n

  • 产品型号: HiPー1000/n
  • 产品厂商:IMV艾目微
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简单介绍:
重庆玉崎 IMV艾目微 绝缘老化评价试验 HiPー1000/n 重庆玉崎 IMV艾目微 绝缘老化评价试验 HiPー1000/n
详情介绍:

供 应 商:京都玉崎(重庆)有限公司

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绝缘老化评价试验 HiPー1000/n
产品特点:
绝缘老化评价试验 HiPー1000/n
1.测得的相同的方式对MIG系列。采用双重结构主动后卫线和1路/1电源/1测量电路的方法这是IMV*重要的特征,我实现了高电压的应用。
2.对于高电压应用,配备联锁防止误动作。
   通过装备的互锁,防止人为错误。
3.可扩展到多达256CH。(案例1:64CH)1000V,而作为一个500V应用,它是可扩展到高达256CH。

产品描述:

绝缘老化评价试验 HiPー1000/n

产品规格:

モデル HiP-1000/n HiP-500/n
外加电压 +1000.0V +500.0V
通道数 8CH~64CH(增设8CH毎)
*大可扩展通道 64CH
绝缘电阻测量范围 105Ω~1014Ω
测量范围和直流电流测量范围 0.1pA~250μA(5测量范围) ※固定范围、自动量程可选0.1pA~5nA
100pA~500nA
1nA~5A
10nA~50μA
100nA~250μA
电流值的测量精度
5nA范围 :±5%±100pA
500nA范围 :±3%±5nA
5μA范围 :±2%±10nA
50μA范围 :±1%±100nA
500μA范围 :±1%±1μA(*大250μA)
注意)1000V对范围内满刻度在申请时
5nA范围 :±5%±100pA
500nA范围 :±3%±5nA
5μA范围 :±2%±10nA
50μA范围 :±1%±100nA
500μA范围 :±1%±1μA(*大250μA)
注意)500V对范围内满刻度在申请时
偏置应用方法 通道独立偏置方案(1电源→1CH)
偏压设置
(0.1V单元可选)
+1.0V~+999.9V(群组[8CH]单元) +1.0V~+500.0V(群组[8CH]单元)
偏置电压范围 1000V 500V
偏置放大器 运算放大器结构
输出噪声:*大±为5mV
采取了一系列的高压稳压电源高电压放大器稳压电源
100μsec顺序由高压运算放大器,响应速度快
偏置电压精度 ±( 满量程的0.5%±1V)
偏置电压测量精度 ±(满量程的0.5%±1V)
*大試験可能時間 9,999 时间
测量方法 我不使用机械继电器)所有通道直接测量
高速16位A/ D转换器
测量电路 绝缘电阻的方法
电流测量电缆 二元结构主动后卫线
电缆开路检测功能 测量/警告报警检测输出连接器电缆的损耗
记录的数据内容 持续时间,使用时间,电阻和电流值和施加的电压,和温度/湿度(上腔连通选项)
个人电脑 OS:WindowsXP(Windows7计划支持)
迁移测量模式 结束方式: 退出迁移产生点
触发方式:开始迁移产生的阈值,研究结束时在*后门槛
时间模式: 发生迁移阈值,在结束阈值计数(*多50次)出现的次数
电源AC100V 50/60Hz 约1500VA/ラック(64CH)除了个人电脑
单位尺寸(不包括突出部分) W430×D550×H635mm
质量 约85kg(64CH)


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