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产品详情
简单介绍:
重庆代理 OTSUKA大塚电子 光谱干涉硅片测厚仪,SF-3
重庆代理 OTSUKA大塚电子 光谱干涉硅片测厚仪,SF-3
详情介绍:
OTSUKA大塚电子
品牌:OTSUKA大塚
日本官网:https://www.otsukael.jp
医用仪器:
二氧化碳碳同位素比分析装置
红外光谱分析仪POCONE,
血球细胞消除仪MM6-N,
分立的方式临床化学自动分析仪NS-Prime,
荧光**层析读取器DiaScan α,
分析仪器:
厚型粒度分析仪FPAR-1000,FPAR-1000AS,
膜厚仪:FPAR-1000,FPAR-1000AS,
反射分光膜厚仪:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手动和自动可切换的椭圆偏光膜厚仪,FE-5000,
自动可切换的椭圆偏光膜厚仪,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手动椭圆偏光膜厚仪,FE-5000S,
内置式膜厚监控器,FE-3,
半导体晶片厚度检测仪,SF-450M,
TSV晶圆厚度测试仪,SF-3000M,
光谱干涉硅片测厚仪,SF-3,
光谱仪
瞬间多通道测光系统:MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚计
反射分光膜厚仪:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
椭圆偏光膜厚仪(自动):FE-5000,
椭圆偏光膜厚仪(手动):FE-5000S,
内置式膜厚监控器:FE-3,
半导体晶片厚度检测仪:SF-450M,
TSV晶圆厚度测试仪:SF-3000M,
光谱干涉硅片测厚仪:SF-3,
TSV形状检测装置:TS-3000,
LED光源评价仪:
积分半球:HM-1030,
积分半球:HM-1050,
扫描型光通量量测装置:HM-9050L,
积分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量测系统:AL-1000,
配光量测系统:GP-1000,
快速光分布测量系统:GP-7,
量子效率量测系统:QE-2000,
荧光膜检测系统(传输荧光测量系统):DF-1000A,
FPD相关的检查和评价设备 液晶显示器(LCD)面板、模组检测:LCD-7200,
液晶显示器(LCD)面板、模组检测:LCD-5200,
超高对比检测仪:GC-1,
高感度分光放射辉度计:HS-1000,
FPD相关的检查和评价设备:
动态画面反应时间检测仪:MPRT-2000,
动态画面清晰度检测仪:MR-2000,
相位差/光学材料量测设备:RETS-100,
低相位差高速检测设备:RE-100,
OTSUKA平面显示器(FPD)光电特性检测,
OTSUKA液晶层间隙(Cell gap)量测设备,
OTSUKA彩色滤光片色度检查机,
OTSUKA平面显示器(FPD)大尺寸样品专,
OTSUKA大塚OLED元件光电特性检测设备,
Zeta电位,粒度测量系统:ELSZ-1000ZS,
zeta电位的测量系统:ELSZ-1000Z,
粒度测量系统:ELSZ-1000S,
流动式图像分析粒子直径、形状测试装置:Particle Insight,
粒径测定系统:ELSZ-2,
電位测定系统:ELSZ-1,
厚型粒度分析仪:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析仪:FPAR-1000,
光散射光度计:
动态光散射光度计:DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
静态光散射光度计:LS-6500HL,
光纤的动态光散射光度计:FDLS-3000,
连续角度光散射光度计:CALLS-1000,
聚合物薄膜动力学分析仪:DYNA-3000,
高感度示差屈折计:DRM-3000,
品牌:OTSUKA大塚
日本官网:https://www.otsukael.jp
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二氧化碳碳同位素比分析装置
红外光谱分析仪POCONE,
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分析仪器:
厚型粒度分析仪FPAR-1000,FPAR-1000AS,
膜厚仪:FPAR-1000,FPAR-1000AS,
反射分光膜厚仪:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手动和自动可切换的椭圆偏光膜厚仪,FE-5000,
自动可切换的椭圆偏光膜厚仪,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手动椭圆偏光膜厚仪,FE-5000S,
内置式膜厚监控器,FE-3,
半导体晶片厚度检测仪,SF-450M,
TSV晶圆厚度测试仪,SF-3000M,
光谱干涉硅片测厚仪,SF-3,
光谱仪
瞬间多通道测光系统:MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚计
反射分光膜厚仪:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
椭圆偏光膜厚仪(自动):FE-5000,
椭圆偏光膜厚仪(手动):FE-5000S,
内置式膜厚监控器:FE-3,
半导体晶片厚度检测仪:SF-450M,
TSV晶圆厚度测试仪:SF-3000M,
光谱干涉硅片测厚仪:SF-3,
TSV形状检测装置:TS-3000,
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积分半球:HM-1030,
积分半球:HM-1050,
扫描型光通量量测装置:HM-9050L,
积分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量测系统:AL-1000,
配光量测系统:GP-1000,
快速光分布测量系统:GP-7,
量子效率量测系统:QE-2000,
荧光膜检测系统(传输荧光测量系统):DF-1000A,
FPD相关的检查和评价设备 液晶显示器(LCD)面板、模组检测:LCD-7200,
液晶显示器(LCD)面板、模组检测:LCD-5200,
超高对比检测仪:GC-1,
高感度分光放射辉度计:HS-1000,
FPD相关的检查和评价设备:
动态画面反应时间检测仪:MPRT-2000,
动态画面清晰度检测仪:MR-2000,
相位差/光学材料量测设备:RETS-100,
低相位差高速检测设备:RE-100,
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zeta电位的测量系统:ELSZ-1000Z,
粒度测量系统:ELSZ-1000S,
流动式图像分析粒子直径、形状测试装置:Particle Insight,
粒径测定系统:ELSZ-2,
電位测定系统:ELSZ-1,
厚型粒度分析仪:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析仪:FPAR-1000,
光散射光度计:
动态光散射光度计:DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
静态光散射光度计:LS-6500HL,
光纤的动态光散射光度计:FDLS-3000,
连续角度光散射光度计:CALLS-1000,
聚合物薄膜动力学分析仪:DYNA-3000,
高感度示差屈折计:DRM-3000,